XULM-XYm簡(jiǎn)介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測(cè)量細(xì)小零部件上的鍍層厚度和成分分析。
為了使每次測(cè)量都能在優(yōu)的條件下進(jìn)行，XULM配備了可電動(dòng)調(diào)整的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。
比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測(cè)量?？蓽y(cè)量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
XULM型X射線光譜儀有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
本款儀器特別適合用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測(cè)量
印制線路板上手動(dòng)測(cè)量
珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量及成分分析
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm設(shè)計(jì)理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM設(shè)計(jì)為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器系列。根據(jù)使用用途，有以下兩種不同版本型號(hào)，分別對(duì)應(yīng)不同樣品平臺(tái)：
XULM： 固定平面平臺(tái)
XULM XYm： 手動(dòng)X/Y平臺(tái)
高分辨的彩色攝像頭配以強(qiáng)大的放大功能，可以定位測(cè)量位置。
盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測(cè)量室，從而可以測(cè)量更大體積的樣品。
外罩底部留下了空隙，可方便地測(cè)量超出測(cè)量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。
通過強(qiáng)大且界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測(cè)量過程，包括測(cè)量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。
XULM型光譜儀是型式許可符合德國(guó)”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護(hù)措施的測(cè)量?jī)x器。
x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm通用規(guī)范
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用途
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能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測(cè)量鍍層厚度和材料分析
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可測(cè)量元素范圍
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從氯（17）到鈾（92），如使用選配的WinFTM® BASIC，可多同時(shí)測(cè)量24種元素
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設(shè)計(jì)理念
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臺(tái)式儀器，測(cè)量門向上開啟
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測(cè)量方向
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由下往上
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x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYmX射線源
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X射線靶材
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帶鈹窗口的鎢靶微聚焦射線管
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高壓
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三種可調(diào)高壓：30 kV，40 kV，50 kV
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孔徑（準(zhǔn)直器）
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4個(gè)可切換準(zhǔn)直器：
標(biāo)準(zhǔn)型(523-440)：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm
可選 (523-366)：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；Ø 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm
可選 (524-061)：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm
可按要求定制其它規(guī)格
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基本濾片
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3種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)型：鎳，無，鋁）
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測(cè)量點(diǎn)大小
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取決于測(cè)量距離和使用的準(zhǔn)直器的大小，視頻窗口中顯示的就是實(shí)際的測(cè)量點(diǎn)尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm準(zhǔn)直器，小的測(cè)量點(diǎn)面積約為Ø 0.1 mm。
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測(cè)量距離，如樣品為腔體時(shí)
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使用保護(hù)的DCM（測(cè)量距離補(bǔ)償法）功能：
測(cè)量距離為0 ~ 20 mm時(shí)，為已校準(zhǔn)范圍；
測(cè)量距離為20 ~ 27.5 mm，為非校準(zhǔn)范圍。
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x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYmX射線探測(cè)器
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X射線接收器
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比例接收器
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二次濾波器
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可選：鈷濾波器或鎳濾波器
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x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm樣品定位
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視頻顯微鏡
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高分辨 CCD彩色攝像頭，可用來觀察測(cè)量位置 十字線刻度和測(cè)量點(diǎn)大小經(jīng)過校準(zhǔn)
測(cè)量區(qū)域的LED照明亮度可調(diào)節(jié)
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放大倍數(shù)
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38 x ~184x (光學(xué)變焦: 38x ~ 46x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
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樣品臺(tái)
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XULM
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XULM XYm
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設(shè)計(jì)
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固定樣品平臺(tái)
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手動(dòng)XY平臺(tái)
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X/Y方向大可移動(dòng)范圍
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-
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50 x 50 mm
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樣品放置可用區(qū)域
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250 x 280mm
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樣品大重量
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2kg
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樣品高度
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240mm
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X射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm電氣參數(shù)
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電壓，頻率
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AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
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功率
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大為 120 W (測(cè)量頭重量，不包括計(jì)算機(jī))
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保護(hù)等級(jí)
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IP40
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儀器規(guī)格
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外部尺寸
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寬x深x高[mm]：395 x 580 x 510
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重量
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約45 kg
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內(nèi)部測(cè)量艙尺寸
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寬x深x高[mm]：360 x 380 x 240
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環(huán)境要求
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測(cè)量時(shí)溫度
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10°C – 40°C / 50°F – 104°F
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存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)溫度
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0°C – 50°C / 32°F – 122°F
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空氣相對(duì)濕度
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≤ 95 %，無結(jié)露
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計(jì)算系統(tǒng)
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計(jì)算機(jī)
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帶擴(kuò)展卡的Windows®個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
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軟件
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標(biāo)準(zhǔn)配置：Fischer WinFTM® LIGHT
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可選配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
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執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
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CE合格標(biāo)準(zhǔn)
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EN 61010
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X射線標(biāo)準(zhǔn)
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DIN ISO 3497和 ASTM B 568
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型式許可
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型式許可符合德國(guó)”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護(hù)措施的測(cè)量?jī)x器。
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x射線膜厚儀|x-ray熒光分析儀|x-ray膜厚儀X-RAY XULM、XULM-XYm如有特殊要求，可與Fischer磋商，定制特殊的XULM型號(hào)。
涂裝 相關(guān)儀器：涂層測(cè)厚儀，漆膜硬度測(cè)試儀，電解膜厚儀，黏度計(jì)/粘度計(jì)，X射線測(cè)厚儀，附著力測(cè)試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測(cè)定儀，光譜儀，涂膜干燥時(shí)間記錄儀，標(biāo)準(zhǔn)光源箱
